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失效分析

• 元器件失效分析
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• LED失效分析

配方分析|成分分析

可靠性測試

DPA破壞性物理分析

• 元器件篩選
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• 元器件假冒翻新鑒定

切片分析

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材料形貌/結(jié)構(gòu)/成分分析

• SEM電鏡/EDS能譜
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• TOF-SIMS二次離子質(zhì)譜儀
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• XRF X射線熒光儀
• XRD X射線衍射儀
• EDX 能量色散X射線光譜儀

精密測量

• 光學(xué)顯微分析與測量
• 輪廓測量
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• 平整度與翹曲度測量

車規(guī)AEC-Q認(rèn)證

產(chǎn)品清潔度及污染物分析

聚合物分析與表征